感謝100學年畢業生 詹振豪 學長 分享穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron microscopy,TEM)專業知識及操作手法,給予本實驗室博、碩士生及專題生有更深入的材料分析技術,我們可透過穿透式電子顯微鏡(TEM)用以觀察材料微結構或晶格缺陷,甚至可以用於觀察僅僅一列原子的結構,比光學顯微鏡所能夠觀察到的最小的結構小數千倍。
透過學長在業界的經驗分享,讓在學學生能對於在將來進入職場前,能更能夠更了解業界所需,對材料分析的技巧更加熟悉,在各自的領域更加進步。
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